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材質(zhì)透檢，缺陷捕捉！?？禉C器人全新CI系列SWIR相機帶你“洞見”更多

工業(yè)相機在可見光領(lǐng)域中已具備較高的成熟度，并且已經(jīng)擴展到NIR、UV等不可見光的領(lǐng)域，但市面上針對SWIR（1-3μm）光譜段響應(yīng)的工業(yè)相機相對較少。


?？禉C器人CI系列新增SWIR明星產(chǎn)品，填補了標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品在短波波段上的響應(yīng)空缺，且能在0.4μm-1.7μm內(nèi)連續(xù)響應(yīng)。相較于市面上傳統(tǒng)的InGaAs相機，具備更薄的InP層，更小的像元尺寸，更少的壞點，及更高的一致性，在半導(dǎo)體、光伏、農(nóng)業(yè)、印刷等行業(yè)的AOI設(shè)備中更為適用。


CI系列SWIR工業(yè)面陣相機

MV-CI013-GS-TF工業(yè)SWIR相機，搭載InGaAs 傳感器，內(nèi)置多種圖像預(yù)處理功能，采取主動制冷控制，確保圖像質(zhì)量優(yōu)異，通過GigE接口實時傳輸非壓縮圖像，具備高幀率。


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MV-CI013-GS-TF工業(yè)SWIR相機.png

光譜更寬，“洞見”更多

MV-CI013-GS-TF采用InGaAs 傳感器，支持0.4-1.7μm 寬光譜成像。產(chǎn)品將可見光和SWIR波段的響應(yīng)融于一臺相機，打破了原先僅僅響應(yīng)于可見光或者SWIR波段的傳感器局限，有助于削減系統(tǒng)成本，通過減輕圖像處理負荷提升處理速度，大幅度擴展檢測對象的領(lǐng)域和范圍。

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TEC制冷，圖像更細膩

相機支持TEC 制冷控制，優(yōu)化結(jié)構(gòu)散熱設(shè)計，ISP 功能豐富，支持陰影校正、降噪、對比度調(diào)節(jié)等功能，成像質(zhì)量優(yōu)異。

TEC開啟/關(guān)閉時，噪點測試結(jié)果如下：

TEC制冷，圖像更細膩.png

TEC制冷，圖像更細膩.png

可靠的產(chǎn)品應(yīng)用

半導(dǎo)體硅片檢測

硅在 1.1μm以上的波長下是透明的。因此，在優(yōu)良波段1.5μm的短波下，相機可拍攝到硅片的底層結(jié)構(gòu)，檢測硅片隱裂等缺陷；或拍攝TFT顯示屏的背面，檢測觸點質(zhì)量。

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光伏電池片檢測

發(fā)光成像有助于通過使硅片或太陽能電池發(fā)光，來識別硅片或太陽能電池中的不一致性，如EL、PL等。


材料分選（塑料分類）

SWIR可對多種材料進行分類。針對塑料制品，在特定的波段下，可用于識別PE、PP、PET、PS、PVC等多種材質(zhì)，尤其適用于不同材質(zhì)的黑色/同色塑料進行分選的需求，可廣泛應(yīng)用于在家用、汽車和電子產(chǎn)品中的塑料分類。


含水量檢測

水在特定的波長上有強烈的吸收作用，如在1.45μm波段下，水的吸收能力較強，所以在圖像中顯得比較暗。含水量少的部分，反射率會強烈增加，圖像亮度較高。

農(nóng)產(chǎn)品色選

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液面檢測


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